Отделение исследований материалов

ЛАБОРАТОРИЯ ЦИФРОВОГО И ФИЗИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЯ

Cоздана с целью проведения исследований широкого спектра материалов с помощью современных методов, в числе которых – оптическая и сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (ПЭМ) и рентгеновская дифракция. Лаборатория цифрового и физического материаловедения проводит иccледования в интересах Института лазерных и сварочных технологий СПбГМТУ, а также для опытно-конструкторских и научно-исследовательских проектов сторонних заказчиков.

ЛАБОРАТОРИЯ ПРОВОДИТ СЛЕДУЮЩИЕ ВИДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ:

Реализация качественной подготовки проб с использованием специальных техник финишной обработки для элементного, дилатометрического, металлографического, дифракционного рентгеновского, электронно-микроскопического анализа; изготовление образцов для механических испытаний
Проведение металлографического анализа с увеличением до 1000 крат с последующей или одновременной количественной обработкой получаемых изображений структуры
Исследование структуры на сканирующем электронном микроскопе при увеличении до 1 000 000х с одновременной оценкой общего и локального химического составов исследуемого образца с использованием метода EDS
Фазовый и микротекстурный анализ вещества методом EBSD на основе кристаллографических ориентировок структуры материалов
Изготовление и проведение механических испытаний различных материалов, в том числе композитов, а также сварных соединений.
Испытания на статическое разрушение при комнатной и повышенной температуре до 1100 °С.
Испытания на ударную вязкость при комнатной и отрицательной температуре до – 60 °С
Механические испытания на твердость и микротвердость металлов по Виккерсу
Исследование характера разрушения различных материалов и сварных соединений после механических испытаний
Проведение рентгеновского фазового анализа: определение наличия и доли различных фаз в сплавах на основе титана, никеля, алюминия, меди, железа и др., а также различных металлокерамик, композиционных и функционально-градиентных материалов, высокоэнтропийных сплавов, минералов и пр.
Исследование дислокационной структуры различных сплавов с возможностью темнопольного и дифракционного анализов при увеличениях до 1 миллиона крат с разрешением до 0,1 нм с использованием просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения
Проведение элементарного анализа наноразмерных включений в различных материалах на просвечивающем электронном микроскопе